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国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位机械电子工业部46所和4所。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 14863-1993 废止

用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

被以下标准替代

GB/T 14863-2013 （全部代替）

用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

基础信息

标准号: GB/T 14863-1993
发布日期: 1993-12-30
实施日期: 1994-10-01
废止日期: 2014-08-15

标准类别: 方法
中国标准分类号: L41
归口单位: 工业和信息化部（电子）
执行单位: 工业和信息化部（电子）
主管部门: 工业和信息化部（电子）

起草单位

机械电子工业部46所和4所

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