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国家标准计划《表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定》由 TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国计量科学研究院

主要起草人 王海宋小平王梅玲高思田冯流星

目录

项目进度

基础信息

计划号
20110879-T-469
制修订
制订
项目周期
36个月
下达日期
2011-12-14
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

王海
宋小平
冯流星
王梅玲
高思田

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 17331:2004。

采标中文名称:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定。

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