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国家标准计划《红外硫系光学薄膜折射率测试方法》由 TC103(全国光学和光子学标准化技术委员会)归口上报,TC103SC5(全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会)执行 ,主管部门为中国兵器工业集团公司

主要起草单位 宁波大学中国建筑材料研究总院湖北新华光信息材料股份有限公司成都光明光电股份有限公司

目录

基础信息

计划号
20191902-T-518
制修订
制订
项目周期
12个月
下达日期
2019-07-12
申报日期
2017-09-28
公示开始日期
2019-01-03
公示截止日期
2019-01-18
标准类别
方法
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
全国光学和光子学标准化技术委员会
执行单位
全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会
主管部门
中国兵器工业集团公司

起草单位

目的意义

随着红外光学器件的小型化和集成化趋势,硫系光学薄膜在光电器件、光子器件以及光通信器件上得到了越来越广泛的应用,光学薄膜的折射率对这些器件的特性影响显著。

因此,准确地知道硫系薄膜的折射率对于设计和制造高质量的微型红外光学器件具有非常重要的意义。

薄膜折射率的获取方法有很多,包括椭偏法、反射光谱法、透射光谱法。

这些方法虽然能获得薄膜的折射率,但却很难快速精确地获得宽光谱范围内任意波长处的折射率。

宁波大学在硫系薄膜的制备的折射率测试方面具有丰富的经验,开发出系列方法,鉴于此,提出“硫系薄膜折射率测试方法”立项建议,通过该标准对薄膜折射率测试所需的试验设备、试验条件、试验程序、数据处理方法等进行规范,统一试验流程,保证试验结果的可比性和可再现性,指导研制、生产和使用部门对硫系薄膜折射率的检验和验收,对促进产品质量的稳定性和一致性,推动红外产业的发展具有重要意义。

范围和主要技术内容

本标准的范围:本标准规定了采用透射谱法获取薄膜折射率的试验设备、试验条件、试验程序、检测原理、数据处理方法等。该标准适用于宽光谱范围内任意波长处单层硫系薄膜折射率的检测。 主要技术内容:硫系薄膜透过率测试方式、测试条件、透射谱切线包络提取方法、任意波长处折射率获取方法等。

国家级科研专项支撑

国家自然科学基金面上项目:硫系薄膜热光稳定性及其亚微米光波导的热压印研究,项目批准号:61377061 国家自然科学基金青年科学基金:纳米银复合的掺稀土硫系玻璃薄膜制备及其下转换发光研究,项目批准号:61205181

相关专利

专利号:ZL201210065051.3 专利名称:一种用于全光器件的Ge-Sb-Se非晶薄膜的制备方法