国家标准计划《微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 中国地质科学院矿产资源研究所 。

本标准等同采用其他国际标准：ISO 16700:2016(E)。

采标中文名称:微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则。

扫描电子显微镜除了适用于观察样品的显微形貌，还可以测量微小物体的尺寸，然而要获得准确的、可比对的、可溯源的物体尺寸，必须定期对扫描电镜的图像放大倍率进行高精度校准。

本标准规定了扫描电镜图像放大倍率校准相关的技术要求，将对我国上千台扫描电镜的图像放大倍率校准、微米纳米等微小尺度测量、实验室认证等工作具有重要指导意义。

上一版国家标准（GB/T27788-2011）是由我们等同采用了ISO16700：2004国际标准，该国际标准在2014-2015年间进行了修订（本人参与），并于2016年发布了新版（ISO16700：2016），其中最大的修订是删除了附录中一些已经无法获取的参考物质，增加了一些新的参考物质（包括中国研制的参考物质）。

为使国家标准保持与国际标准的同步，需要及时更新修订。

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本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。本标准限于对由参考物质上线距大小的范围所决定的放大倍率进行校准。本标准不适用于专用测长型扫描电镜。 本标准主要技术内容包括术语和定义、图像放大倍率、参考物质、校准过程、图像放大倍率和标尺的准确度、校准报告及4个资料性附录。